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1. LCD & LED test
Press the pedal "1". The LCD starts displaying the
test pattern shown in Fig. 1. Verify that the segments
are turned on.
Press a key and verify that the 7-seg LED and the
pedal LEDs are turned on in the order shown in Fig.
2.
2. Switch test
Press a key and the LCD will read "SW1".
Press the keys in the order shown in Fig. 3 and verify
that pressed key is represented on the LCD.
The test stops upon detecting a defective key and
won't proceed to the next key. Take a corrective
action and return to the step 1.
When the test is successful, the test program
proceeds to the step 3. DSP test.
3. DSP test
The test program automatically starts the test step 3 -
1. after completion of the step 2.
3 - 1. Initialization
When the unit is initialized, the program goes to the
step 3 - .2. Otherwise, it displays "ERROR 1" and
jumps to the step 4.
3 - 2. Internal RAM test
The program writes the test data into and reads out
from the internal RAM and then goes to the step 3 - 3.
If error, it displays "ERROR 2" and jumps to the step
4.
3 - 3. External RAM test
The program writes the test data into and reads out
from the external RAM and then goes to the step 4.
If error, it displays "ERROR 3" and goes to the step 4.
4. Output frequency response test
The LCD displays "TEST 1". Sine waves of 20 Hz - 1
kHz - 5 kHz - 15 kHz - 20 Hz from DSP are sent to
OUTPUT sockets at
0.8 sec.
interval.
Connect a noise meter to OUTPUT R. Set the meter
to "FLAT" and check the readings against the table
below.
Connect a noise meter to OUTPUT L (with the blank
plug in R) and check the readings.
The difference in readings between R and L must be
within 1 dBm.
Monitor OUTPUTs R and L and PHONES R and L in
that order on the oscilloscope and make sure they are
look like the waveforms shown in Fig. 4.
To go to the step 5, press VALUE + key.
1.LCD・LEDチェック
NO1PEDALを押すと、 LCD表示パターン[ fig1
LCDテスト参照]がスタートします。
各セグメントが正常に点灯するか確認します。
どれかKeyを押すと、 7SEG,LED表示パターン[
fig27SEGLED及びペダル部 LEDテスト参照]がス
タートしますので、各 LEDが正常に点灯するか確認
します。
2.SWチェック
7SEG,LED表示パターンに続いてどれか Keyを押す
と、 LCDに "SW1"と表示されます。
表示番号[ fig3SWチェックテスト参照]に従って
Keyを押し、これに対応して LCDの表示が変化する
ことを確認してください。
最後のSWが押され、SWチェックが正常に終了しま
すと、自動的に次のステップ(DSPチェック)へ
進みます。
この時、SWチェックでSW不良があれば次のSW
チェック及びステップに進む事が出来ません。
3.DSPチェック
以下の検査を自動的に処理します。
3−1.初期化のテスト
結果が NGの場合、 LCDに "ERROR1"が表示され、
4.出力部f特チェックに進みます。
結果が OKであれば、何も表示せずに次のステップ
に進みます。
3−2.内部RAM読込み、書込みテスト
結果が NGの場合、 LCDに "ERROR2"が表示され、
4.出力部f特チェックに進みます。
結果が OKであれば、何も表示せずに次のステップ
に進みます。
3−3.外部RAM読込み、書込みテスト
結果が NGの場合、 LCDに "ERROR3"が表示され、
4.出力部f特チェックに進みます。
結果が OKであれば、何も表示せずに次のステップ
に進みます。
4.出力部f特チェック
LCDに "TEST1"と表示されます。
0.8秒間隔で、 20Hz,1KHz,5KHz,15KHzサイン波
が出力されます。
(DSP内部発振、自動ループ)
ノイズ・メーターをFLATに切り換えます。
Lch(MONO) ,Rchを個別にチェックを行っ
て下さい。
Lch ,Rch のレベル差は ±1dBm とします。
ノイズ・メーターでレベルを確認します。
オシロスコープで OUTPUTL/R,PHONESL/Rの出力
波形が、歪んでいないか確認します。
[ fig4テスト1波形図参照]
Lch(MONO) ,Rchを個別にチェックを行っ
て下さい。
VALUEKey+で次の検査に進みます。
5. Output stage muting test
The LCD displays "TEST 2". A 1 kHz sine wave from
DSP is sent to OUTPUT sockets at 0.5 sec. interval.
In the similar way as in the step 4 above, connect the
noise meter or scope to OUTPUT R and then L (with
the blank plug in R)
and check the readings. The difference in readings
between R and L must be within 1 dBm.
Monitor OUTPUTs R and L and PHONES R and L in
that order on the oscilloscope and make sure they are
look like
the waveforms shown in Fig. 5.
To go to the step 6, press VALUE + key.
To return back to the step 4, press VALUE - key.
6. OD and DS circuit test
The LCD displays "TEST 3". A 200 Hz square wave
from DSP is sent to OUTPUTs at 0.8 sec. interval at
four different levels.
Monitor the outputs by first connecting the scope to
OUTPUT R and then L (with the blank plug in R) and
make sure that
the waveforms look like the ones shown in Fig. 6.
To go to the step 7, press VALUE + key.
To return back to the step 5, press VALUE - key.
7. OD and DS gain test
The LCD displays "TEST 4". A 200 Hz sine wave from
DSP is sent to OUTPUTs at an 0.8 sec. interval at
four different levels.
Monitor the outputs by first connecting the scope to
OUTPUT R and then L (with the blank plug in R) and
make sure that
the waveforms look like the ones shown in Fig. 7.
To go to the step 8, press VALUE + key.
To return back to the step 6, press VALUE - key.
8. Input frequency response test
The LCD displays "TEST 5". Apply a square wave of
200 Hz, 200 mV to INPUTs.
Monitor the outputs by first connecting the scope to
OUTPUT R and then L (with the blank plug in R) and
make sure that
the waveform looks like the one shown in Fig. 8.
To go to the step 9, press VALUE + key.
To return back to the step 7, press VALUE - key.
9. AUX circuit test
The LCD displays "TEST 6". Apply a square wave of
200 Hz, 200 mV to AUX INP.
The input signal is modified into three waveforms
which are sent to OUTPUTs at an 0.5 sec. interval.
Monitor the outputs by first connecting the scope to
OUTPUT R and then L (with the blank plug in R) and
make sure that
the waveforms look like the ones shown in Fig. 9.
To go to the step 10, press VALUE + key.
To return back to the step 8, press VALUE - key.
10. Residual and shock noises
The LCD displays "TEST 7". Short-circuit the inputs
(e.g. insert a short circuit plug into INPUT and AUX
IN).
Set the noise meter to "JIS-A" or "IHF" and connect it
first to OUTPUT R and then L (with the blank plug in
R) and make sure that the readings are -88.0 dBm or
below. Also verify that difference in noise level
between channels is 1 dBm or less.
5.出力部ミュート回路動作チェック
LCDに "TEST2"と表示されます。
0.5秒間隔で、 1KHzサイン波が間欠出力されます。
(DSP内部発振、自動ループ)
OUTPUTL/R,PHONESL/Rの出力波形を確認しま
す。[ fig5テスト2波形図参照]
Lch(MONO) ,Rchを個別にチェックを行っ
て下さい。
Lch ,Rch のレベル差は ±1dBm とします。
VALUEKey+で次の検査に進みます。
VALUEKey−で前の検査に戻ります。
6.OD/DS回路動作チェック
LCDに "TEST3"と表示されます。
0.8秒間隔で、4種類の波形が出力されます。
(DSP内部発振 200Hz矩形波、自動ループ)
OUTPUTL/Rの出力波形を確認します。[ fig6テスト3
波形図参照]
Lch(MONO) ,Rchを個別にチェックを行っ
て下さい。
VALUEKey+で次の検査に進みます。
VALUEKey−で前の検査に戻ります。
7.OD/DSゲイン動作チェック
LCDに "TEST4"と表示されます。
0.8秒間隔で、4種類のレベル違う波形が出力されま
す。
(DSP内部発振 200Hzサイン波、自動ループ)
OUTPUTL/Rの出力波形を確認します。[ fig7テスト4
波形図参照]
Lch(MONO) ,Rchを個別にチェックを行っ
て下さい。
VALUEKey+で次の検査に進みます。
VALUEKey−で前の検査に戻ります。
8.入力部f特チェック
LCDに "TEST5"と表示されます。
INPUTに 200Hz(200mVp-p)矩形波を入力します。
OUTPUTL/Rの出力波形を確認します。[ fig8テスト5
波形図参照]
Lch(MONO) ,Rchを個別にチェックを行っ
て下さい。
VALUEKey+で次の検査に進みます。
VALUEKey−で前の検査に戻ります。
9.AUX回路動作チェック
LCDに "TEST6"と表示されます。
INPUT,AUXINに 200Hz(200mVp-p)矩形波を入力
します。
0.5秒間隔で、3種類の波形が出力されます。(自動
ループ)
OUTPUTL/Rの出力波形を確認します。[ fig9テスト6
波形図参照]
Lch(MONO) ,Rchを個別にチェックを行っ
て下さい。
VALUEKey+で次の検査に進みます。
VALUEKey−で前の検査に戻ります。
10.残留ノイズ、ショック・ノイズチェック
LCDに "TEST7"と表示されます。
ノイズ・メーターをJIS−AまたはIHF
のモードに切り換えます。
INPUT,AUXINは無接続で(入力短絡、信号ライン
とGNDラインがショートされた状態)、 OUTPUTL/R
の出力をノイズ・メーターで確認してください。
OUTPUTL,R-88.0dBm(JIS-A)以下 又は、 -
88.0dBm(IHF)以下