Hameg HZ65-3 User manual

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MANUAL • HANDBUCH • MANUEL
Component Tester
HZ65-3

Änderungen vorbehalten / Subject to change without notice 1
Teststrom
Umschaltbar in drei Stufen:
Max. ca. 200 mAeff,
Med. ca. 50 mAeff,
Min. ca. 5 mAeff,
(bei Kurzschluß der Testanschlüsse).
Oszilloskopanschlüsse
Anschluß über zwei seitwärts
angebrachte BNC-Buchsen.
Masseanschluß über Schutzkontakt geerdet.
Anschluß X (voltage)
für horizontale Strahlablenkung.
Anschluß Y (current)
für vertikale Strahlablenkung.
Netzanschluß
115V oder 230V ± 10%, intern umschaltbar.
Netzfrequenz 50-60 Hz.
Leistungsaufnahme: max. 6,5W.
Eingebaute Netzsicherung.
Betriebsanzeige durch LED.
Prüfspannung 3kV 50Hz.
Bedingt kurzschlußfest (max. 5 min.).
Netzkabel mit Schutzkontaktstecker
(dreipolig, Länge ca. 1,6m).
Gehäuse
Schlagfestes Polystyrol
Maße : L=137mm, B=80mm, H=52mm.
Gesamtgewicht: ca. 600gr.
Technische Daten
Testprinzip
Kennliniendarstellung auf dem
Oszilloskop im XY-Betrieb.
Zweipol-Darstellung.
Testobjekte
Halbleiter aller Arten
(keine Leistungselektronik),
Widerstände (bis ca. 5kΩ),
Kondensatoren (10nF - 100µF),
NF-Eisenkernspulen.
Testanschlüsse
Buchsenpaar 4 mm (rot u. schwarz)
(für 2 mitgelieferteTestkabel).
Schwarze Bananenbuchse ist geerdet!
2 dreipoligeTransistorfassungen
(Polung dreifach umschaltbar).
Testfrequenz
ca 50Hz, sinusförmig
Testspannung
Leerlauf ca. 8,2Veff.
Component Tester HZ65-3
ITests an Halbleitern
IHandlich und stabil
IPrüfen elektr. Bauteile
Mit Hilfe des Komponententesters HZ65
und eines Oszilloskops, können Halbleiter,
Widerstände, Kondensatoren und Spulen
einzeln, aber oft auch ohne auszulöten aus
der Schaltung geprüft werden. In gewis-
sen Grenzen sind auch Tests an integrier-
ten Schaltkreisen möglich. Für Transisto-
ren besitzt der Tester zwei dreipolige Fas-
sungen, deren Anschlüsse umschaltbar
sind. Dies vereinfacht die Prüfung verschie-
dener Teilstrecken eines Transistors. Bau-
teile mit dickeren Anschlüssen oder eine zu
testende Schaltung werden über zwei
Meßkabel an zwei seitlichen Buchsen des
HZ65 angeschlossen. Der Strom durch das
zu prüfende Bauteil ist umschaltbar. Beson-
ders für die Reparatur elektronischer Gerä-
te ist der HZ65 ein unentbehrlicher Helfer,
der eine Gut-Schlecht-Information inner-
halb von Sekunden liefert. Ein Vergleich mit
Nennwert-Bauteilen ist dadurch ebenfalls in
kürzester Zeit durchführbar.
Mitgeliefertes Zubehör
Zwei Meßkabel (rot und schwarz)
mit Tastspitzen und
Bananensteckern (HZ56).
Lieferbares Zubehör
BNC-Kabel (z.B. HZ33,34)
zum Anschluß an das Oszilloskop.

Änderungen vorbehalten / Subject to change without notice
2
Allgemeine Hinweise
Der Komponenten-Tester HZ65, in Verbindung mit
einem Oszilloskop, gestattet die zeitsparende Prü-
fung von Halbleitern aller Arten (Ausnahme:
Leistungselektronik), Widerständen, Kondensatoren
und Spulen. Die Bedienung des Gerätes ist äußerst
einfach. Die Beurteilung des Testbildes erfordert
anfangs etwas Erfahrung, die man aber bei häufi-
gem Gebrauch desTesters schnell erwirbt. Zur Un-
terstützung dienen dabei dieTestbilder auf Seite 8.
Der HZ65 ist gemäß IEC1010-1, Schutzmaßnahmen
für elektronische Meßgeräte, gebaut und geprüft und
hat das Werk in sicherheitstechnisch einwandfrei-
em Zustand verlassen. Um diesen Zustand zu erhal-
ten und einen gefahrlosen Betrieb sicherzustellen,
muß der Anwender die Hinweise undWarnvermerke
beachten, die in dieser Bedienungsanleitung enthal-
ten sind.
Die Masseanschlüsse der BNC-Buchsen so-
wie die schwarze Bananenbuchse sind über
den Schutzkontaktstecker des HZ65 geerdet.
Im allgemeinen ist das für die Prüfung ein-
zelner Bauteile ohne Belang. BeiTests in der
Schaltung muß diese jedoch unter allen
Umständen vorher stromlos gemacht wer-
den. Bei Schaltungen mit schutzgeerdetem
Netzanschluß ist es notwendig, den Netz-
stecker dieses Gerätes zu ziehen. Eine dop-
pelte Schutzleiterverbindung kann zu fal-
schen Testergebnissen führen.
Garantie
Für den HZ65 wird eine Funktionsgarantie von 2 Jah-
ren gewährt. Voraussetzung ist, daß im Gerät keine
Veränderungen vorgenommen wurden. Für Versen-
dungen per Post oder Bahn wird empfohlen, das Ge-
rät sehr sorgfältig zu verpacken, am besten in der
Originalverpackung.Transportschäden durch unzurei-
chende Verpackung sind von der Garantie ausge-
schlossen. Bei einer Beanstandung empfehlen wir,
am Gehäuse des Gerätes einen Zettel zu befestigen,
der stichwortartig den beobachteten Fehler be-
schreibt. Wenn dabei gleich der Name und dieTele-
fon-Nr. (Vorwahl und Ruf- bzw. Durchwahl-Nr. oder
Abteilungsbezeichnung) für evtl. Rückfragen angege-
ben wird, dient dies einer beschleunigten Abwicklung.
Betriebsbedingungen
Zulässiger Umgebungstemperaturbereich während
des Betriebs: +0°C... +40°C. Zulässiger Tem-
peraturbereich während der Lagerung und des
Transports: -40°C... +70°C. Bei einerTaupunkt-Un-
terschreitung (Bildung von Kondenswasser) muß
die Akklimatisierungszeit vor dem Einschalten ab-
gewartet werden. In extremen Fällen (HZ65 stark
unterkühlt) ist bis zur Inbetriebnahme eineWarte-
zeit von etwa 2 Stunden erforderlich, bei einer
Raumtemperatur von 20°C. Das Gerät ist zum Ge-
brauch in sauberen, trockenen Räumen bestimmt.
Es darf also nicht bei besonders großem Staub- und
Feuchtigkeitsgehalt der Luft, bei Explosionsgefahr
sowie bei aggressiver chemischer Einwirkung be-
trieben werden. Die Betriebslage des Gerätes ist
an sich beliebig; jedoch muß die Luftzirkulation
(Konvektionskühlung) unbehindert bleiben.
Wenn anzunehmen ist, daß ein gefahrloser Betrieb
nicht mehr möglich ist, so ist das Gerät außer Be-
trieb zu setzen und gegen unabsichtlichen Betrieb
zu sichern. Diese Annahme ist berechtigt:
• das Gerät sichtbare Beschädigungen aufweist
• wenn das Gerät loseTeile enthält,
• wenn das Gerät nicht mehr arbeitet,
• nach längerer Lagerung unter ungünstigenVer-
hältnissen (z.B. im Freien oder in feuchten Räu-
men),
• nach schweren Transportbeanspruchungen
(z.B. mit einer Verpackung, die nicht den Min-
destbedingungen von Post, Bahn oder Spedi-
tion entspricht).
Warnung
Beim Öffnen oder Schließen des Gehäuses,
bei einer Instandsetzung oder bei einem
Austausch von Teilen muß das Gerät von
allen Spannungsquellen getrennt sein.Wenn
danach eine Messung, eine Fehlersuche oder
ein Abgleich am geöffneten Gerät unter Span-
nung unvermeidlich ist, so darf das nur durch
eine Fachkraft geschehen, die mit den damit
verbundenen Gefahren vertraut ist.
Inbetriebnahme undVoreinstellungen
Bei Lieferung ist das Gerät auf 230V ±10% (50-
60Hz) eingestellt. Die Umschaltung auf 115V
±10%erfolgt im lnnern desGerätes durch Umlöten
von Drahtbrücken. Vor dem Öffnen des HZ65
Netzstecker ziehen! Dann erst die 4 Boden-
schrauben lösen und Gehäusedeckel abheben.
Neben dem gekapselten Netztrafo befinden sich 5
Lötpunkte die entsprechend der Nachfolgenden
Skizzen mit isolierten Drahtbrücken zu versehen
sind. (Serien- oder Parallel-Schaltung der Primär-
wicklung).

Änderungen vorbehalten / Subject to change without notice 3
Nach Anschluß an das Netz muß jetzt auf dem
Oszilloskop-Bildschirm eine waagerechte Linie er-
scheinen. Die Länge der Linie sollte mit dem X-
Empfindlichkeitsschalter bzw. -Regler auf etwa hal-
be Bildschirmbreite eingestellt werden.
Schließt man die beiden Bananenbuchsen des
HZ65 kurz, erscheint auf dem Bildschirm eine senk-
rechte Linie, deren Länge mit demY-Teilerschalter
des Oszilloskops auf etwa halbe Bildschirmhöhe
einzustellen ist.
Damit ist der HZ65 betriebsbereit. Es ist zweck-
mäßig, sich die betreffenden Oszilloskop-Einstel-
lungen zu merken oder zu markieren, damit wäh-
rend anderer Arbeiten jederzeit ein schnellerTest
mit dem HZ65 eingeschoben werden kann.
Es ist darauf zu achten, daß der HZ65 nicht längere
Zeit mit auf maximal eingestelltem Strom im Kurz-
schluß betrieben wird. Es empfiehlt sich, den
Stromumschalter des HZ65 nach jedemTest auf
Minimum zu stellen. Ein versehentlicher Kurz-
schluß der beiden Testkabel auf dem Labortisch
bleibt dann ohne Folgen.
Funktionsweise
Der eingebaute Generator liefert eine 50Hz Sinus-
spannung, die die Reihen-schaltung aus Prüfobjekt
und einem eingebauten umschaltbaren Widerstand
speist.
Ist das Prüfobjekt eine reelle Größe (z.B. ein Wi-
derstand), sind beide Ablenkspannungen phasen-
gleich. Auf dem Bildschirm wird eine mehr oder
weniger schräge Linie dargestellt.
Bei Kurzschluß derTestkabel wird eine senk-
rechte Linie dargestellt.
Offene Klemmen erzeugen dagegen eine waage-
rechte Linie.
Kondensatoren und Spulen bewirken eine Phasen-
differenz zwischen Strom und Spannung, also auch
zwischen den Ablenkspannungen. Daraus ergeben
sich ellipsenförmige Bilder. Schrägstellung und
Öffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend
für den Scheinwiderstandswert.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungs-
abhängigen Kennlinienknicke beim Übergang
von dem leitenden in den nichtleitenden Zustand.
Soweit das spannungsmäßig möglich ist, werden
für 230V
Netzsicherung: T50mA
für 115V
Netzsicherung: T100mA
Die Netzsicherung muß immer der gewählten Netz-
spannung entsprechen und bei einemWechsel aus-
getauscht werden.Typ-Angaben siehe Schaltbild.
Wenn sichergestellt ist, daß Netzspannung und Si-
cherung übereinstimmen und das Gehäuse ge-
schlossen ist, können die beiden BNC-Buchsen mit
entsprechenden BNC-Kabeln an das Oszilloskop an-
geschlossen werden:
X voltage = Horizontal-Eingang
Y current =Vertikal-Eingang
Hat das Oszilloskop eine andere Buchsenform, kön-
nen die BNC-Buchsen über entsprechende Adap-
ter angeschlossen werden. Als Verbindung zwi-
schen dem Componenten-Tester und dem Oszillo-
skop eignen sich BNC-BNC Kabel wie z.B. HZ31,
HZ33, HZ34. Für Oszilloskope mit Anschluß über
Bananenbuchsen kann z.B. das Anschlußkabel
HZ32 (BNC auf 4mm Bananenstecker) verwendet
werden.
Bei Selbstbau eines Adapters ist darauf zu achten,
daß die Masse der BNC-Buchsen des HZ65 auch
mit der Masse des Oszilloskops verbunden ist. Ent-
sprechend der Bedienungsanleitung des
Oszilloskops ist dieses auf XY-Betrieb bzw. auf ex-
terne X-Ablenkung und - wenn möglich - auf DC-
Eingangskopplung zu schalten.
Brücke

Änderungen vorbehalten / Subject to change without notice
4
Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik darge-
stellt (z.B. bei einer Z-Diode unter 12V usw.). Es
handelt sich immer um eine Zweipol-Prüfung, des-
halb ist z.B. die Verstärkung eines Transistors mit
dem HZ65 nicht feststellbar.
Da die amTestobjekt anliegende Spannung nur ei-
nigeVolt beträgt, können die einzelnen Zonen fast
aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft werden.
Tests direkt in der Schalltung sind in vielen Fällen
möglich; allerdings bringt die Parallelschaltung mit
anderen komplexen Bauteilen eine merkliche Ver-
änderung derTestbilder. Mit einiger Erfahrung oder
bei direktem Vergleich mit funktionsfähigen Schal-
tungen lassen sich aber so fehlerhafte Bauelemente
ganz besonders schnell lokalisieren. In Zweifelsfäl-
len kann ein Bauteilanschluß einseitig abgelötet
werden. Messungen mit dem HZ65 nur in strom-
losen Schaltungen vornehmen (Zerstörungs-
gefahr der Schaltung und desTesters).
Oszilloskop-Art
Der HZ65 kann an jedes Oszilloskop, das mit je
einem X- undY-Eingang ausgerüstet ist, angeschlos-
sen werden (XY-Betrieb oder externe X-Ablenkung).
Testbetrieb
Einzelne Bauteile mit dünnen Anschlußdrähten las-
sen sich am schnellsten an den beiden (parallelge-
schalteten) Transistorfassungen prüfen. Die da-
bei benutzten Fassungskontakte sind mit dem
oberen Schiebeschalter (socket contact) einstell-
bar. Bauteile, die nicht in die Fassungen passen
oder sich in der Schaltung befinden, können über
die mitgelieferten Testkabel an den HZ65 ange-
schlossen werden. Mit dem unteren Schiebe-
schalter (current) kann der Teststrom geändert
werden. Bevorzugte Stellungen sind dafür:
Dioden, Kleinleistungstransistoren, FET’s: Medium
Thyristoren, Triacs: Maximum
Widerstände bis 5kΩ: Minimum
bis 500Ω: Medium
bis 50Ω: Maximum
ungepolte Kondensatoren bis 1µF: Minimum
bis 10µF: Medium
über 10µF: Maximum
Kompenenten-Test
Die Prüfung einzelner Bauteile ist problemlos. Qua-
litative Ergebnisse erhält man beimVergleich mit
funktionsfähigen Bauelementen des gleichen
Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere auch für
Halbleiter. Man kann damit z.B. den kathoden-
seitigen Anschluß einer Diode oder Z-Diode mit
unkenntlicher Beschriftung, die Unterscheidung ei-
nes p-n-p-Transistors vom komplementären n-p-n-
Typ oder die richtige Gehäuseanschlußfolge B-E-C
eines unbekannten Transistortyps schnell ermit-
teln. Wichtiger noch ist die einfache Gut-Schlecht-
Aussage über Bauteile mit Unterbrechung oder
Kurzschluß, die im Service-Betrieb erfahrungsge-
mäß am häufigsten benötigt wird.
Die übliche Vorsicht gegenüber einzelnen
MOS-Bauelementen in bezug auf statische
Aufladung oder Reibungselektrizität wird
dringend angeraten.
Nicht so eindeutig sind dieTestergebnisse direkt in
der Schaltung. Durch ParalleIschaltung reeller und
komplexen Größen - besonders wenn diese bei 50Hz
relativ niederohmig sind - ergeben sich vielfach gro-
ße Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat man
oft mit Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service),
dann hilft auch hier einVergleich mit einer funkti-
onsfähigen Schaltung. Dies geht sogar besonders
schnell, weil dieVergleichsschaltung gar nicht unter
Strom gesetzt werden muß (und darf!). Mit denTest-
kabeln sind einfach die identischen Meßpunktpaare
nacheinander abzutasten und die Schirmbilder zu ver-
gleichen. Unter Umständen enthält dieTestschaltung
selbst schon die Vergleichsschaltung, z.B. bei Ste-
reo-Kanälen, symmetrischen Brückenschaltungen.
In Zweifelsfällen kann ein Anschluß des Bauelemen-
tes abgelötet werden. Dann sollte dieser Anschluß
mit der roten Prüfbuchse des HZ65 verbunden wer-
den, weil sich damit die Brummeinstreuung verrin-
gert. Die schwarze Prüfbuchse liegt direkt an der
Oszilloskop-Masse und ist brumm-unempfindlich.
Brumm kann auch auf dem Bildschirm sichtbar
werden, wenn der Basis- oder Gate-Anschluß ei-
nes einzelnen Transistors offen ist, also gerade
nicht getestet wird (Handempfindlichkeit).
Es wird noch einmal darauf hingewiesen:
Tests mitdem HZ65 dürfen nur an strom-
losen Bauteilen, Baugruppen oder Schalt-
kreisen vorgenommen werden.

Änderungen vorbehalten / Subject to change without notice 5
Specifications
Test principle
Display of component signatures on
an oscilloscope in X-Y mode.
Two-point testing.
Test objects
Semiconductor components of all kinds
(except power electronics),
Resistors (up to approx. 5 kΩ),
Capacitors (10nF- 100 µF),
LF ferrite-core inductors.
Test inputs
Pair of 4-min jacks (red and black)
for 2 test leads (included).
The black banana jack is grounded !
Two 3-point transistor sockets
(any combination of 2 contacts may be
selected for testing).
Test frequency
Sine-wave 50Hz
Test voltage
No-load voltage approx. 8.2Veff
Test current
Switchable in 3 steps:
Max. approx. 200mAeff
Med. approx. 50mAeff
Min. approx, 5mAeff
(if test leads are short-circuited).
Oscilloscope connections
Connection by means of 2 BNC jacks on the
side of the unit (grounded by way of power cord).
X output (voltage) for horizontal deflection.
Y output (current) for vertical deflection.
Power requirements
115V or 230V ± 10%. (internel selectable)
Line frequency 50-60 Hz.
Power consumption: max. 6.5 watts.
Built-in oveicurrent protection.
LED pilot lamp indicates operation.
Tested at: 3kV 50Hz.
Limited short-circuit protection (max. 5 min.)
Power cord with grounding (3-prong) plug,
length: approx. 1,6 m.
Enclosure
Made of non-conductive polystyrene.
Dimensions: 137mm x 80mm x 52 mm (L x W x H)
Total weight: approx. 600g
Component Tester HZ65-3
II
II
ITest of semiconductors
II
II
ITest of discrete components
II
II
IRugged and compact
In conjunction with an oscilloscope, the
component tester HZ65 can be used to test
semiconductor components, resistors,
capacitors and inductors not only out-of-
circuit, but also often without desoldering
them from circuit boards. Within certain
limits, testing of integrated circuitry is also
possible. Transistors can be plugged into
two 3-point sockets; any combination of 2
contacts may be selected for testing.
This simplifies testing of different internal
transistor paths (base-emitter, emitter-
collector, base-collector). Components with
larger-diameter leads and ICs are connected
to the 2 jacks on the side of the HZ65 using
2 test cables. The direction of current flow
through the tested component or IC can be
reversed. The HZ65 is particularly indi-
spensable for repairs of electronic devices,
providing good-bad information within
seconds. This also allows quick comparison
of the unit under test with a known good
component or network.
Accessories supplied:
Two test cables (red and black)
with probes and banana plugs (HZ56)
Optional accessories:
BNC cable HZ33, HZ34

Änderungen vorbehalten / Subject to change without notice
6
General Information
The component tester HZ65, used in conjunction with
an oscilloscope, permits time-saving tests of
semiconductors of all kinds (exception: power
electronics), resistors, capacitors and inductors. It is
exceptionally easy to operate. Evaluation of the
graphical test patterns requires a certain amount of
experience, but this is rapidly acquired if the tester is
used frequently. To support this process, a number
of typical component signatures are illustrated at the
back of these instructions.
The HZ65 has been constructed and tested in
accordance with the stipulations of IEC1010-1, which
govern protective measures for electronic test
instruments, and it has left the factory with all safety
features in perfect working order. In order to maintain
it in this condition and guarantee safe, nonrisk
operation, the user should observe all notes and
warnings contained in these operating instructions.
The BNC jacks and the black banana jack are
grounded by way of the 3-conductor power
cord of the HZ65. In general, this will have no
effect on out-of-circuit testing of individual
components.When performing incircuit tests,
however. Steps must be taken to ensure that
no currents are flowing within the circuit. In
the case of circuits which are themselves
grounded by way of their power connection, it
is necessary to pull the power plug of the
component tester. Double grounding can load
to incorrect test results.
Warranty
A limited warranty is granted covering proper
functioning of the HZ65 for a period of 2 years. This
warranty is void if unauthorized changes have been
made on the unit. When mailing or shipping by rail,
we recommend packaging the unit very carefully.
Damage caused during transport by inadequate
packaging is exempted from the warranty. When
exercising this warranty, we advise attaching a note
to the housing of the unit briefly deseribing the
observed fault or faults.You will receive faster service
if you include your name and telephone number
(including area code and extension or department
designation) in case we require additional information.
Environmental conditions
Permissible ambient temperature range during
operation: + 10° to +40°C. Permissible temperature
range for storage and transport: -40°C to +70°C. If
the unit has been kept at temperatures below the dew
point (the temperature at which water vapour begins
to condense), then it must be acclimated for a certain
minimum time period before powering up. In extre-
me cases (if the HZ65 is much colder than the dew
point), it is necessary to wait approx. 2 hours at room
temperature before beginning operation. The unit is
designed for use in clean, dry roorns. It must not be
operated if there is a high incidence of airborne dust,
high relative humidity, risk of explosions, or if aggres-
sive chemicals are present in the environment. The
unit may be operated in any position, provided that
there is unhindered air circulation (convection cooling).
Damage to the unit
If there is reason to believe that the unit may no longer
be safely operated, then it must be powered down
and protected against accidental activation. This is
the case if:
• The unit exhibits visible damage
• The unit contains loose parts
• The unit no longer functions
• The unit has been stored under unfavorable
conditions (e.g. out of doors or in a moist area)
for a long period of time
• The unit has been subjected to ahnornial stresses
during transport (e.g. as a result of not being
packaged in accordance with the minirnurn
requirements of the postal service, railway or
shipping company).
Warning
When opening or closing the enclosure, when
performing repairs or maintenance, and when
replacing parts. the unit must be isolated from
all voltage sources. If, after doing so, it is
absolutely necessary to carry out measure-
ments. troubleshooting or adjustments on the
opened unit while it is under a live voltage, then
this may only be done by a trained technician
who is familiar with the associated risks and
dangers.
Make ready and presettings
Upon delivery, the unit is set to operate on 230V ±
10% (50-60Hz). Conversion for operation on 115V ±
10% is performed in the inside of the unit by
resoldering of wired jumpers. Always pull the power
plug before opening the HZ65! After rnaking sure
that this has been done, remove the 4 screws on the
base of the unit and lift off the cover. Next to the
encapsulated input transformer is a row of 5 lands,
to wich the isolated wired jumpers shold be attached
as shown in the following diagram (series- or parallel
connection of the primary coil).
Line overcurrent protection:
Fuse: T 50mA for 230 V
isolated wire

Änderungen vorbehalten / Subject to change without notice 7
Test principle
The built-in frequency generator provides a
sinusoidal voltage at the same frequency as the line
voltage, which is then applied to the series circuit
consisting of the test object and a built-in switchable
resistor.
In the case of resistors or other non-complex
components, the 2 deflection voltages are in phase
and a snore or less diagonal line will appear on the
oscilloscope screen. If the test cables are shorted,
a vertical llins is displayed. If the leads are open, a
horizontal line will result. Capacitors and inductors
cause a phase difference between current and voltage,
and thus between the 2 deflection voltages. The result
is ellipsoidal traces. The slope and width of the
ellipses are indicative of the impedance.
In the case of semiconductors, a voltage-induced
sharp change in direction in the curve can be
observed at the transition point from the conductive
to the nonconductive state. To the extent permitted
by the applied test voltage, the forward and reverse
characteristics of semiconductor components are
displayed (e.g. for a zener diode below 12V, etc.). Only
2-point measurements can be performed; for this
reason, transistor gain and the like cannot be
measured with the HZ65.
Since only a few volts are applied to the test
object, non-destructive testing is possible of the
individual zones of almost all semiconductors.
Direct in-circuit testing is possible in rnany
cases, however, parallel circuits with other, complex
components can cause significant changes in the
curve traces. Nevertheless, with a certain amount of
experience or by comparing with the traces of known
functional circuits, faulty components can be quickly
identified. In cases of doubt, one of the component
leads can be desoldered.
Carry out tests with the HZ 65 only in circuits in
which no currents are flowing (otherwise there
is a risk of damage to the circuit and the tester).
Oscilloscope types
The HZ 65 can be connected to any oscilloscope with
X and Y inputs (in X-Y mode or external X deflection).
Testing
Individual components with thin leads can be
tested most quickly out-of-circuit by plugging them
into one of the 2 socket contacts for testing. The
included test cables can be connected to the HZ 65
for in-circuit testing of components or testing of
components with leads that will riot fit into the
sockets. Use the lower slide switch (current) to adjust
the test current. The recommended settings are as
follows:
Diodes, small-signal trans., FETs.: Medium
Thyristors, triacs: Maximum
Resistors up to 5kΩ: Minimum
Up to 500Ω: Medium
Up to 50Ω: Maximum
Unpolarized capacitors up to 1µF: Minimum
Up to 10µF: Medium
Over 10µF: Maximum
Fuse: T 100mA for 115 V
The line overcurrent protection device must have a
rating which corresponds to the selected line voltage,
and must therefore be replaced when changing over.
For type information, consult the circuit diagram.
Once you have made sure that the line voltage and
overcurrent protection device correspond arid the
enclosure has been closed, the 2 BNC jacks rnay be
connected to the oscilloscope using the corresponding
BNC cables:
X (voltage) = Horizontal input
Y (current) = Vertical input
It the oscilloscope has a different jack type, the
BNC jacks can be connected using apropriate
adaptors. For connecting the component tester to
the oscilloscope, BNC-BNC cables such as HZ31,
HZ33, and HZ34, also supplied by HAMEG, are
suitable. For oscilloscopes equipped with banana
jacks, the connection cable HZ32 8NC may be used
with 4-mm banana plugs.
If you construct your own adaptor, make sure that
the frames of the BNC jacks of the HZ65 are also
connected with the oscilloscope chassis for grounding
purposes. Consult the operating instructions for the
oscilloscope, and set it to X-Y mode or external X
deflection, as well as - if possible- DC input coupling.
After the component tester and oscilloscope have
been powered up, a horizontal baseline should appear
in the oscilloscope screen. Use the Horizontal control
to adjust the length of the base-line to approx. half
of screen width.
If the 2 banana jacks of the HZ65 are shorted, a
vertical line appears on the oscilloscope screen. Use
the Y time-division control of the oscilloscope to adjust
its length to about half of screen height.
The HZ65 is now ready for operation. It is a good
idea to make a note of the oscilloscope settings so
that quick tests can be performed with the HZ65 in
the middle of other tasks.
Avoid operating the HZ65 for lengthy periods of
time with shorted inputs and maximum current. I t is
advisable to set the current switch of the HZ65 to
minimum level after each test. This prevents any
damage from occurring if the 2 test cables should
accidentally be shorted on the test bench.
isolated wires

Änderungen vorbehalten / Subject to change without notice
8
Component testing
Out-of-circuit testing of individual components is
unproblematic. Qualitative results are obtained by
comparing with known good components of the
same type and rating. This also applies to
semiconductors. For example, it is possible to quickly
determine which lead is the cathode on a diode or
zener diode with illegibly printed designations, to
identify NPN or PNP transistors, or to obtain emitter-
base-collector identification on unknown transistor
types. Even more important is the ability to quickly
obtain a good-bad evaluation of components in the
case of interruptions or shorts, which experience has
shown is what servicing jobs most often require.
It is urgently advised to exercise the usual
caution when handling individual MOS
components as regards electrostatic charges.
It is not quite as simple to obtain usable results when
performing in-circuit testing. As a result of parallel
connection of components with real and complex
characteristics - especially if these have relatively
low impedances at 50Hz - significant differences are
often obtained compared to out-ofcircuit testing of
individual components. If you must frequently test
circuits of the same type (service department), then
here, too, it is useful to compare the trace pattern
with that of a functional circuit. This is especially
quick and easy to do, since the second circuit used
for purposes of comparison need not (and must not!)
be placed under power. Using the test cables, simply
probe the corresponding pairs of test points and
compare the trace patterns obtained. At times, the
circuit under test will itself contain the circuit for
comparison, e.g. in the case of stereo channels and
symmetrical bridge circuits. In cases of doubt, one
lead of the component in question can be desoldered.
This lead is then connected with the red test jack of
the HZ65, in order to reduce hum. The black test jack
is directly connected with the oscilloscope chassis,
and is not sensitive to hum. Drum can also become
visible on the oscilloscope screen if the base or gate
of a single transistor is open, in other words it it is not
being tested at the moment (due to body effect).
The following should be stressed once again:
Tests with the HZ65 may only be performed on
components, modules or circuits in which no
currents are flowing.
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